解决方案
微波毫米波天线测试系统
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- 产品概述
- 配置选型
功能特点
0.1～500GHz全频段覆盖
标准化、系列化、通用化设计，可实现灵活的系统配置
高精度多轴运动控制能力
完备的近场、远场测试解决方案
强大的测量及存储功能
完善的近远场变换能力
强大的数据分析功能
高分辨率口径场诊断能力
基于近场外推的阵列天线通道一致性测试能力
丰富的显示功能
灵活的测量配置方式及强大的外设支持能力
灵活的系统配置 系统采用了完全自主的高性能模块化微波毫米波测试设备，实现了0.1～500GHz频段的无缝覆盖；系统提供了对国内外主流微波毫米波发射、接收设备的支持，提高了配置的灵活性。
完备的近场、远场测试解决方案
系统具备完备的近场、远场测量能力，可根据不同的被测天线灵活选择合适的测量方法，再配合相应的测试设备及完善的系统测量软件，提供针对性的天线测试解决方案，全面满足用户的测试需求。
高精度多轴运动控制能力
7431D扫描架控制器具有4轴（可扩展）高精度运动控制能力，同转台/扫描架等机械运动机构结合可组成完整的转台/扫描架系统。仪器可实时显示位置/角度信息，可实现程控/手动操作，具有完善的限位保护、异常情况急停保护、同步脉冲输出等能力，是天线测试应用的理想机械控制设备。
强大的测量及存储功能
具备点频、扫频、频率列表、连续波、脉冲等多种测量模式，可对原始测试数据以实部、虚部、线性幅度、对数幅度、相位等不同方式进行存储。
完善的近远场变换能力
具备完善的近远场变换及误差修正补偿能力，解决用户大型天线平面、柱面近场测试的难题。
强大的数据分析功能
能够根据测试方向图分析各种极化形式天线的方向性、波束最大点位置、波束指向、副瓣电平和位置、波束宽度、交叉极化等参数；能够实现多文件比较分析；能够进行用户自定义特殊参数的计算；能够自动生成报表并按需打印。
高分辨率口径场诊断能力
系统可以利用近场扫描测试采集到的数据，通过反演变换算法，得到天线口径场的幅相分布，实现对天线的“诊断”。特别是对于阵列天线、相控阵天线来说，口径场诊断功能可快速定位出天线阵列中失效单元和失效组件的位置，为缩短天线的故障单元定位时间，提高效率，提供了快速有效的手段。
基于近场外推的阵列天线通道一致性测试能力
系统提供了基于近场外推的阵列天线通道一致性测试方法，利用近场全波束扫描，外推得到远场分布并自动对多通道进行智能归一化，可以方便地比较出各通道的幅相一致性，为阵列天线近场幅相一致性校准提供了快速、准确的手段。
丰富的显示功能
提供了多种绘图选项，使显示更直观，满足用户不同关注细节的显示需求。
灵活的测量配置方式及强大的外设支持能力
自主知识产权软件具备强大的外设支持能力，可实现国内外主流测试转台（用户可以根据测试需要选择一维、二维及三维测试转台）、极化转台、一维/二维扫描架等外围机械设备的自动控制。
典型应用
微波毫米波天线测试系统可广泛应用于各类天线性能特性测试，通过选配不同的转台或扫描架等运动控制机构，能够方便灵活的形成近场、远场测试能力，通过不同的系统配置，可满足不同客户各类测试定制化需要。
配置选型
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参数名称 |
技术指标 |
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频率范围 |
0.1～500GHz |
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最大输出功率(未配置功率放大器) |
0.1～40GHz |
≥+10dBm |
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40～60GHz |
≥+6dBm |
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50～75GHz |
≥+13dBm |
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75～110GHz |
≥+10dBm |
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110～170GHz |
≥+3dBm |
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170～220GHz |
≥-2dBm |
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220～325GHz |
≥-7dBm |
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325～500GHz |
≥-20dBm |
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测量灵敏度 |
0.1～40GHz |
≤-120dBm |
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40～60GHz |
≤-110dBm |
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50～75GHz |
≤-110dBm |
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75～110GHz |
≤-105dBm |
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110～170GHz |
≤-105dBm |
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170～220GHz |
≤-110dBm |
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220～325GHz |
≤-110dBm |
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325～500GHz |
≤-80dBm |
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环境适应性 |
符合 GJB3947A-2009四级设备标准要求 |
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电源 |
220V±10% |
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功耗 |
<1500W |
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工作温度 |
10～40℃ |
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结构形式 |
1.6米标准机柜（一个） |
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外形尺寸 |
宽×高×深= 600mm×1600mm×800mm |
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