6433P光波元件分析仪是面向高速电光器件、光电器件及光光器件调制特性测试的仪器，频率范围覆盖10MHz~110GHz，集成电电测试、电光测试、光电测试及光光测试4种测试模式，具有对数/线性幅度、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式，能够精确测量光电网络的幅/相频特性，主要应用于高速电光器件（电光强度调制器、直接调制激光器、光发射组件）、光电器件（探测器、光发射组件、探测器芯片）及光光器件（光衰减器、EDFA）的带宽、幅/相频、群时延等频响参数的测试。
6433P光波元件分析仪是面向高速电光器件、光电器件及光光器件调制特性测试的仪器，频率范围覆盖10MHz~110GHz，集成电电测试、电光测试、光电测试及光光测试4种测试模式，具有对数/线性幅度、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式，能够精确测量光电网络的幅/相频特性，主要应用于高速电光器件（电光强度调制器、直接调制激光器、光发射组件）、光电器件（探测器、光发射组件、探测器芯片）及光光器件（光衰减器、EDFA）的带宽、幅/相频、群时延等频响参数的测试。
