【杏林睿光】数字散斑与剪切散斑干涉测量实验
散斑干涉技术是一种通过对散斑干涉条纹进行分析而获得测结果的干涉测量方法，可测量物体形变过程中的微小位移。剪切散斑干涉技术与传统直接测量位移技术不同，主要通过目标平面自身作为参考平面 测量得到位移的空间导数。两种技术都具有非接触、全场同时测量、高分辨率等优点，广泛应用于无损检测、应变测量、振动分析等领域。RealLight®采用数字散斑干涉和剪切散斑干涉两种方法来测量物体离面的微小位移，并配套测量软件，是光电及测控专业学生掌握散斑测量技术的理想实验系统。
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- 产品概述
- 配置选型
实验内容
1、数字散斑干涉光路搭建；
2、数字散斑干涉物体离面位移测量；
3、数字剪切散斑干涉光路搭建；
4、数字剪切散斑干涉离面位移测量。
实验原理
实验知识点
数字散斑干涉技术、数字剪切散斑干涉技术、离面位移测 量、图像相减、相关条纹、数字图像处理技术。
实验原理
设备参数
1.光源组件： 氦氖激光器：P>1.5mW，TEM00，全保护安全高压插头，双开关设计（安全钥匙、按键）符合CE要求。
2.光学器件： 扩束镜：Φ6.3mm，f=-6.3mm；Φ25.4mm，f=-50.8mm； 衰减片：Φ25.4mm，透过率5%；
毛玻璃：Φ20mm，双面毛，Tc=1.5mm； 全铝反射镜：Φ25.4mm，Tc=4mm； 分光棱镜：25.4mm×25.4mm×25.4mm，
AR@400nm～700nm； 分光光楔：外形Ф40mm，分光比为1:9。
3.机械组件： 配套调节套筒、支杆、支杆底座、高精度调节镜架及镜座； 激光管夹持器：可夹物体的直径Φ25~50mm，V型；
磁性表座：外形61×51×55mm，吸力45kg； 散斑被测物：中心高170mm，总高235mm，直径130mm； 多孔固定板：外形250×300×12.7mm，铝板，M6螺孔。
4.探测器组件 CMOS相机：分辨率1280×1024，像素大小5.2μm×5.2μm，USB2.0接口； CCTV镜头：f=25mm，F1.4，2/3"。
5.软件功能： 包含被测物变形前后的相位图，以及变形前后的相位差图模块。
6.实验手册及保修卡
