Ceyear中电科思仪41所6433P光波元件分析仪
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- 产品概述
- 配置选型
主要特点
10MHz~110GHz 宽频带同轴覆盖；
最小频率分辨率1Hz；
测试功能丰富，具备传输、反射等多种参数测试功能；
一体化多功能测试界面；
向导式校准及一键式快速扫频测试；
多窗口显示及快速分析；
自动夹具移除，快速获取探针数据；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集，可实现自动测试。
10MHz~110GHz 宽频带同轴覆盖
6433P光波元件分析仪调制频率最高可达110GHz，最小频率分辨率为1Hz，可实现高速宽频带光器件及光芯片调制特性测试。
一体化多功能测试向导界面
6433P光波元件分析仪具备电电、电光、光电、光光四种测量模式，功能模式之间可任意切换，可满足光器件的S参数、阻抗、时域等参数测量需求。一体化多功能界面方便用户快速完成测量模式、光波参数、光路去嵌入参数、射频去嵌入等参数的设置。
向导式校准及一键式测试
6433P光波元件分析仪进行微波域的电电校准及光波域的光路校准时，采用向导式校准，方便用户对仪器进行快速校准，获得被测件准确的测试结果。同时采用一体化集成设计方案，利用核心算法，实现电光/光电/光光器件一键式宽带快速扫频测试。
多窗口快速显示及分析
6433P光波元件分析仪最多支持64个测量通道，32个测量窗口，每个窗口最多可同时显示16条测试轨迹，可实现结果的多窗口、多格式显示。
高分辨率多点触控电容屏可快速实现各种输入和选择操作，快捷高效，便于用户快速分析数据，为用户提供全新的光波元件分析仪操作体验。
自动夹具移除，快速获取探针数据
6433P光波元件分析仪利用自动夹具移除功能可快速解决光芯片S参数测试难题。测试时，将高频探针等效为夹具，通过自动夹具移除功能测量高频探针的时域参数，利用信号流图提取频域参数，形成s2p文件，进而通过射频去嵌入，实现光芯片的高精度S参数测试。
